Лазерные спектрометры серии EDX，дисперсия энергииXРентфлуоресцентный спектрометрПрименяется кRoHS & WEEEАнализ командИзмерение толщины различных металлических пленок, измерение толщины промышленного покрытия, инструкции по галогенамClЭлементный анализАнализ состава руды, сырья и т.п., магнитных магнитных сред и полупроводников и различных соединенийАнализ состава золота и драгоценных металлов.
Лазерные спектрометры серии EDXОсновные особенности
•Анализ диапазона элементовS-U

•Диапазон концентрации анализируемых элементов2ppm—100%
•Устойчивость всей машины8Часовое измерениеRSD<0.25%
• ROHS / WEEEВремя проверки100 - 120Секунда

•США импортируют электроэнергиюSi（Pin）Детектор

•ЭлектроохлаждениеSi（Pin）площадь кристалла детектора15mm2Разрешение<155eV
•Полностью цифровые импульсные процессоры

•Отличное соотношение гор и спин, очень высокая чувствительность к анализу следов.

• 50 КВ, 50 ВтСамозащитаX-Рентгеновская трубка

•Интеллектуальное переключение сложных фильтров

Характеристики:

АТочный анализ хлора и свинца в красках

АИнтеграцияFPЗакон,AlphaМетод коэффициентов, метод эмпирических коэффициентов

АБезопасное сцепление, радиационная конструкция с мягким и твердым соединением

АПростая операция, операция одним нажатием клавиши

ААвтоматическая настройка параметров и выбор фильтра

АXзащита лучевой трубки от перегрева

АЭлектронное охлаждение без жидкого азота и других расходных материалов

Технические спецификации